

產品介紹
BT-80IR系列紅外顯微鏡是利用紅外光波段對樣品進行觀察和分析的顯微鏡。由于紅外線的波長比可見光長,因此紅外顯微鏡能夠穿透一些可見光無法穿透的材料,如Si(硅)、GaAs(砷化鎵)等半導體材料有良好的紅外光透過性, 可用于觀察以上這類半導體器件的內部;

紅外顯微鏡的應用
Vcsel芯片隱裂(cracks)、InGaAs瑕疵紅外無損檢測

die chip 失效分析

紅外透射Wafer正反面定位標記重合誤差無損測量;

硅基半導體Wafer、碲化鎘CdTe、碲鎘汞HgCdTe襯底無損紅外檢測

太陽能電池組件綜合缺陷紅外檢測





